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详细内容
特点:
采用四探针测试技术,宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针,定位准确,测量方便,精确,游移率小,寿命长,可测量片状、块状等半导体材料及径向、轴向的电阻率和扩散层的薄层电阻、方块电阻;对薄膜等材料的电阻率也可精确测量
主要技术性能:
测量范围:
电阻率:10-4-103Ω/cm
电阻:10-6-105Ω
方块电阻:10-3-104Ω/□
恒流源:10μA-100mA(五档)
精度:≤±0.5%±2个字
分辨力:0.1μV
功耗:12W(约)
外形尺寸:400*120*400mm
净重:15千克
ST-82数字式四探针测试仪
ST-82数字式四探针测试仪 销售热线:010-57722330
更新时间:2024/5/10 8:15:40
标签:ST-82数字式四探针测试仪
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